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材料研究方法
0.1 基础概念
0.1 基础概念
像散
分辨率
卢瑟福散射
埃瓦尔德球
常用仪器分析比较
强度
成像方法
汤姆逊公式
洛伦兹力
球差
电场力
色差
衍射和艾里斑
衬度
0.2 晶体学
晶系和布拉维点阵
布拉维点阵
晶系
立方
0.2 晶体学
倒易空间
四指数
对称性
晶体的定义与特征
晶向
晶面
点阵
素胞
1 X-ray Diffraction
衍射方法
劳厄衍射法
德拜衍射(粉末衍射)法
衍射方法
转动晶体法
X-ray Diffraction (XRD)
XRD 测多晶残余应力
X射线产生和辐射类型
X射线特性
X射线的吸收
劳厄方程
布拉格定律
德拜衍射的相对强度
消光
莫塞莱定律
衍射强度
2 TEM & SEM
电子与物质的相互作用
二次电子
俄歇电子
吸收电子
散射电子
特征X射线
电子与物质的相互作用
背散射电子
透射电子
电子衍射
偏移矢量
单晶电子衍射花样判定
复杂衍射花样判定
晶带轴
电子衍射
电子衍射基本公式
选区电子衍射
SEM 信号来源
SEM 分辨率
SEM 衬度
SEM
TEM 成像
TEM
位错密度
双束条件
弱束暗场像
弱束暗场像观察位错
电子在和电场磁场中的运动
电子基本性质
电磁透镜
衍射动力学
🔬 材料研究方法
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二次电子
在入射电子作用下,使样品原子的外层价电子或自由电子被击出样品表面,称为二次电子
用于
断口分析
,
显微组织分析
,和
原始表面形貌观察
二次电子的能量较低
(通常低于
50
e
V
,且大部分低于
10
e
V
)
二次电子
易于采集,数量大
,成像分辨率高
如果激发过程在样品深处,激发的电子会被吸收,无法产生信号
过程在表面附近数纳米范围时,激发的二次电子可能会溢出样品
SE分类:
SE1:入射电子激发样品表面产生的SE
SE2:
背散射电子
与样品表面产生的SE
SE3:背散射电子溢出,与
仪器器件
产生的SE